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160MHZ高頻介電常數(shù)測(cè)試儀

160MHZ高頻介電常數(shù)測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:160MHZ高頻介電常數(shù)測(cè)試儀雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

更新時(shí)間:2024-07-18

產(chǎn)品型號(hào):GDAT-C

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:443

產(chǎn)品詳情
品牌北廣精儀價(jià)格區(qū)間2萬-5萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,電氣

160MHZ高頻介電常數(shù)測(cè)試儀頻率精確、信號(hào)幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn),更保證了測(cè)量精度的精確性。電容、電感、Q值、頻率、量程都采用數(shù)字化指示,讀數(shù)精確,頻率值可任意設(shè)置。在某一頻率下,只要能找到諧振點(diǎn),都能直接讀出電感、電容值,大大擴(kuò)展了電感的測(cè)量范圍,而不再是固定的幾個(gè)頻率下才能測(cè)出電感值的大小。160MHZ高頻介電常數(shù)測(cè)試儀

其中, Y 為導(dǎo)納, A 為電容面積, d 為極板間距離,e0 為空氣介電常數(shù),ω 為角頻率。為了測(cè)量導(dǎo)納,通常用并聯(lián)諧振回路測(cè)出Q 值(品質(zhì)因數(shù))和頻率,進(jìn)而推出介電常數(shù)。由于其高頻率會(huì)受到小電感的限制,這種方法的高頻率一般是100 MHz。小電感一般為10 nHz 左右。如果電感過,高頻段雜散電容影響太大。如果頻率過高,則會(huì)形成駐波,改變諧振頻率同時(shí)輻射損耗驟然增加。但這種方法并不適用于低損材料。因?yàn)檫@種方法能測(cè)得的Q 值只有200 左右,使用網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)得tand 也只在10?4 左右。這種方法不但準(zhǔn)確度不高,而且只能測(cè)量較低頻率,在現(xiàn)有通信應(yīng)用要求下已不應(yīng)用。

[GB/T 1693-2007]硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角工頻、高頻適用于硫化橡膠

正切值的測(cè)定方法

[GB/T 5597-1999]固體電介質(zhì)微波復(fù)介電常數(shù)的測(cè)

2~18 試方法 GHz 2~20 0.0001~0.005

[GB 7265.1-87]固體電介質(zhì)微波復(fù)介電常數(shù)的測(cè)試方2~18 GHz 2~20 0.0001~0.005 微擾法

法——微擾法

[GB 7265.2-87]固體電介質(zhì)微波復(fù)介電常數(shù)的測(cè)試方法——“開式腔"法 3~30 GHz 5~100 0.0002~0.006 開式腔法

[GB 11297.11-89]熱釋電材料介電常數(shù)的測(cè)試方法1 kHz ± 5% 適用于熱釋電材料

[GB 11310-89]壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法相對(duì)自由介電常數(shù)溫度特性的測(cè)試 1 kHz 適用于壓電陶瓷材料

[GB/T 12636-90]微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線測(cè)1~20 GHz 2~25 0.0005~0.01 試方法

[QJ 1990.3-90]電絕緣粘合劑電性能測(cè)試方法工頻、工頻、高頻適用于電絕緣粘合劑

高頻下介質(zhì)損耗角正切及相對(duì)介電常數(shù)的測(cè)量(1 MHz 以下)

[SJ 20512-1995]微波大損耗固體材料復(fù)介電常數(shù)和

2~40 GHz 2~100 <1.2 適用于微波大損耗固體材料

復(fù)磁導(dǎo)率測(cè)試方法

[SJ/T 1147-93]電容器用有機(jī)薄膜介質(zhì)損耗角正切值工頻、1 kHz、1 適用于電容器用有機(jī)薄膜

和介電常數(shù)試驗(yàn)方法MHz

[SJ/T 10142-91]電介質(zhì)材料微波復(fù)介電常數(shù)測(cè)試方4~12 GHz 4~80 0.1~1 適用于電介質(zhì)材料、同軸線終端開路

法同軸線終端開路法法

[SJ/T 10143-91]固體電介質(zhì)微波復(fù)介電常數(shù)測(cè)試方

法——重入腔法 100~1000 MHz <20 0.0002~0.02 適用于電介質(zhì)材料、重入腔法

[SJ/T 11043-96]電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)

50~50 MHz 適用于電子玻璃

的測(cè)試方法

低頻、射頻、適用于巖樣、本方法所指低頻為1

[SY/T 6528-2002]巖樣介電常數(shù)測(cè)量方法KHz~15 MHz、射頻為20 MHz~0.27 超高頻

GHz、超高頻為0.2 GHz~3 GHz

3.2. 傳輸線法

傳輸線法是網(wǎng)絡(luò)法的一種,是將介質(zhì)置入測(cè)試系統(tǒng)適當(dāng)位置作為單端口或雙端口網(wǎng)絡(luò)。雙端口情況下,通過測(cè)量網(wǎng)絡(luò)的s 參數(shù)來得到微波的電磁參數(shù)。圖1 為雙端口傳輸線法的原理示意圖。其中,Γ 表示空氣樣品的反射系數(shù),g 為傳播系數(shù),l同時(shí)測(cè)量傳輸系數(shù)或者反射系數(shù)的相位和幅度,改變樣品長度或者測(cè)量頻率,測(cè)出這時(shí)的幅度響應(yīng),聯(lián)立方程組就能夠求出相對(duì)介電常數(shù)。單端口情況下,通過測(cè)量復(fù)反射系數(shù)Γ 來得到、料的復(fù)介電常數(shù)。因此常見的方法有填充樣品傳輸線段法、樣品填充同軸線終端法和將樣品置于開口傳輸線終端測(cè)量的方法[27]。第一種方法通過改變樣品長度及測(cè)量頻率來測(cè)量幅度響應(yīng),求出εr。這種方法可以測(cè)得傳輸波和反射波極小點(diǎn)隨樣品長度及頻率的變換,同時(shí)能夠避免復(fù)超越方程和的迭代求解。但這一種方法僅限于低、中損耗介質(zhì),對(duì)于高損耗介質(zhì),樣品中沒有多次反射。傳輸線法適用于εr 較大的固體及液體,而對(duì)于εr 比較小的氣體不太適用。早在 2002年用傳輸反射法就能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)任意厚度的樣品在任意頻率上進(jìn)行復(fù)介電常數(shù)的穩(wěn)定測(cè)量NRW T/R 法(即基于傳輸/反射參數(shù)的傳輸線法)的優(yōu)勢(shì)是簡(jiǎn)單、精度高并且適用于波導(dǎo)和同軸系統(tǒng)。但該方法在樣品厚度是測(cè)量頻率對(duì)應(yīng)的半個(gè)波導(dǎo)波長的整數(shù)倍時(shí)并不穩(wěn)定。同時(shí)此方法存在著多值問題,通常選擇不同頻率或不同厚度的樣品進(jìn)行測(cè)量較浪費(fèi)時(shí)間并且不方便。此外就是對(duì)于極薄的材料不能進(jìn)行高精度測(cè)量[28]。反射法測(cè)量介電常數(shù)的早應(yīng)用是Decreton 和Gardial 在1974 年通過測(cè)量開口波導(dǎo)系統(tǒng)的反射系數(shù)推導(dǎo)出待測(cè)樣品的介電常數(shù)。同軸反射法是反射法的推廣和深化,即把待測(cè)樣品等效為兩端口網(wǎng)絡(luò),通過網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量該網(wǎng)絡(luò)的散射系數(shù),據(jù)此測(cè)試出材料的介電常數(shù)。結(jié)果顯示,同軸反射法在測(cè)量高損耗材料介電常數(shù)上有一定可行性,可以測(cè)量和計(jì)算大多數(shù)高損耗電介質(zhì)的介電常數(shù),對(duì)諧振腔法不能測(cè)量高損耗材料介電常數(shù)的情況有非常大的補(bǔ)充應(yīng)用價(jià)值[29]。2006 年又提出了一種測(cè)量低損耗薄膜材料介電常數(shù)的標(biāo)量法。該方法運(yùn)用了傳輸線法測(cè)量原理,首先測(cè)量待測(cè)介質(zhì)損耗,間接得出反射系數(shù),然后由反射系數(shù)與介電常數(shù)的關(guān)系式推出介質(zhì)的介電常數(shù)。其薄膜可以分為低損耗、高損耗和高反射三類,通過實(shí)驗(yàn)證明了三種薄膜的損耗隨頻率改變基本呈相同的變化趨勢(shì),高頻稍有差別,允許誤差范圍內(nèi)可近似。該方法切實(shí)可行,但不適用于測(cè)量表面粗糙的介質(zhì)[30]。近幾年有人提出了新的確定Ka 波段毫米波損耗材料復(fù)介電常數(shù)的磁導(dǎo)率的測(cè)量方法并給出了確定樣品的復(fù)介電常數(shù)及磁導(dǎo)率的散射方程。此方法有下列優(yōu)點(diǎn):1) 計(jì)算復(fù)介電常數(shù)及磁導(dǎo)率方程組是去耦合的,不需要迭代;2) 被測(cè)量的頻率范圍比較寬;3) 與傳統(tǒng)方法相比了介電常數(shù)測(cè)量對(duì)樣品長度和參考面的位置的依賴性;4) 了NRW 方法在某些頻點(diǎn)測(cè)量的不確定性[31]。還有人將橢圓偏振法的電些頻點(diǎn)測(cè)量的不確定性[31]。還有人將橢圓偏振法的電法用測(cè)量樣品反射波或者投射波相對(duì)于入射波偏振狀態(tài)的改變來計(jì)算光電特性和幾何參數(shù)。毫米波橢圓偏振法得到的復(fù)介電常數(shù)的虛部比實(shí)部低,即計(jì)算得到的虛部有一定誤差,但它對(duì)橢圓偏振法的進(jìn)一步研究提供了重要的參考依據(jù)

外殼由絕緣套筒及鋼板制成的底和蓋組成,底和蓋用螺栓及環(huán)緊固在絕緣套筒的兩端。在電容器的上下兩端有防暈罩。電容器外殼內(nèi)裝有同軸高度拋光的圓柱形高低壓電極。電容器設(shè)有壓力表及氣閥,供觀察內(nèi)部壓力及充放氣使用

技術(shù)參數(shù):

1. 電容器安裝運(yùn)行海拔不超過1000米,使用周圍空氣溫度-10℃~40℃,相對(duì)濕度不超過70%。

2. 電容器的工作頻率為100Hz。

3. 電容器實(shí)測(cè)值誤差不大于±0.05%,與標(biāo)稱值誤差不大于±3%

4. 電容器溫度系數(shù) ≤ 3×10-5 /℃

5. 電容器壓力系數(shù) ≤ 3×10-3Mpa

6. 電容器的損耗角正切值不大于1×10-5 、2×10-5 、5×10-5 三檔。

電容器內(nèi)充SF6氣體。在20℃時(shí),壓力為0.4±0.1Mpa

固體絕緣材料測(cè)試電極

本電極適用于固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和 玻璃等的相對(duì)介電系數(shù)(ε)與介質(zhì)損耗角正切值(tgδ)的測(cè)試本電極主要用于頻率在工頻50Hz下測(cè)量試品的相對(duì)介電系數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角正切值(tgδ

本電極的設(shè)計(jì)主要是參照國標(biāo)GB1409。

本電極采用的是三電極式結(jié)構(gòu),能有效的表面漏電流的影響,使測(cè)量電極下的電場(chǎng)趨于均勻電場(chǎng)

主要技術(shù)指標(biāo)

環(huán)境溫度:20±5℃

相對(duì)濕度:65±5%

高低壓電極之間距離:0~5mm可調(diào)

百分表示值:0.01mm(一粒1.5V氧化銀電池供電)

測(cè)量極直徑:70±0.1mm

空極tgδ:≤5×10-5

空極電容量:40±1pF

高測(cè)試電壓:2000V

實(shí)驗(yàn)頻率:50/100Hz

體積:Ф210mm H180mm

重量:6kg

高壓電源技術(shù)指標(biāo)簡(jiǎn)介高壓電源采用*數(shù)字電路技術(shù),測(cè)試電壓、漏電流均為數(shù)字顯示,可以直觀、準(zhǔn)確、快速、

安全的輸出高壓。技術(shù)規(guī)格

1.輸出電壓(交流)0~10kV(±3%±3個(gè)字.a型為0~5KV)

2.漏電流(交流)MAX  20mA(±3%±3個(gè)字,可調(diào))

3.變壓器容量:1000VA

4.輸出波形:100Hz正弦波

5.工作電壓:AC220V±10%

6.使用環(huán)境:

環(huán)境溫度:0~40℃

相對(duì)濕度:(20~90)%消

7.耗功率:大75VA

8.外形尺寸:320mm(寬)×170mm(高)×245mm(深)

9.重量:10Kg

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