半導(dǎo)電屏蔽體積電阻率智能測試儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)為GB3048.4-2007、GB3048.3-2007、GB3956-2008、GB/T12706.2-2008GB/T12706.32008GB/T11017.1-11017.3-2002、GB/T28427-2012。

半導(dǎo)電屏蔽體積電阻率智能測試儀試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)TEST STANDARD：符合GB/T3048.3《半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率》試驗(yàn)方法。適用范圍SCOPE：本機(jī)適用于測量電線電纜用橡膠和塑料半導(dǎo)電材料的體格電阻率。

儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。自動(dòng)/手動(dòng)量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動(dòng)場合操作使用！

探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO 膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配專用探頭， 也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

儀器具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點(diǎn)。

儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。